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レジスタ・ファイルを含む論理回路のテストパターン自動生成
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/114927
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1149273b5523f1-5e8c-4a8c-b16d-30a0b475132c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00001330548.pdf (152.9 kB)
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| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1986-10-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | レジスタ・ファイルを含む論理回路のテストパターン自動生成 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | Test Generation for Logic Circuits with Register File | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機(株) 情報電子研究所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機(株) 情報電子研究所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 三菱電機(株) 情報電子研究所 | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric Corporation | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric Corporation | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Mitsubishi Electric Corporation | ||||||
| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 論理回路の大規模化に伴い、そのテストはますます困難になりつつある。この問題を解決する手法の1つとして、スキャン設計のようなテスト容易化設計が行われている。しかし、スキャン設計は回路内の記憶素子をすべてシフトレジスタにしてスキャンバスを構成するため、ゲート数が像化する。従って、レジスタファイルのような記憶素子を多く含む論理回路に適応することは、チップ面積の点から非現実的であった。従来、このような回路に対しては人手でテストパターンを作成し、故障シミュレーションを行っていたが、故障検出率の高いテストパターンを作成するには多くの時間を要していた。このような問題点を解決するため、スキャン設計を適用していないレジスタファイルを含む論理回路のテストパターン自動生成プログラムを開発した。 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第33回, 号 情報システム, p. 2289-2290, 発行日 1986-10-01 |
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| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
