WEKO3
アイテム
スタンダードセル遅延パラメータ抽出システム
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/114908
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1149086638abc4-3657-46a0-a5ce-3bbeb4db4e97
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
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Item type | National Convention(1) | |||||
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公開日 | 1986-10-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | スタンダードセル遅延パラメータ抽出システム | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | Delay Parameter Extracting System on Standard Cell | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
資源タイプ | conference paper | |||||
著者所属 | ||||||
松下電器産業株式会社 半導体研究センター デバイス開発研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
松下電器産業株式会社 半導体研究センター デバイス開発研究所 | ||||||
著者所属 | ||||||
松下電器産業株式会社 半導体研究センター デバイス開発研究所 | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. | ||||||
著者所属(英) | ||||||
en | ||||||
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. | ||||||
論文抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 近年LSIは高集積化が進み、レイアウト設計の自動化が必要不可欠になってきている。レイアウト設計手法の一つであるスタンダードセル方式の自動レイアウトにおいては、最適な配置、配線を行うため、セル内の遅延情報(入力容量及び遅延時間等の回路パラメータ)が必要とされる。またレイアウト後の動作検証において、実遅延論理シミュレーションを行うためには、高精度な遅延情報のフィードバックが必要である。そこで我々は、スタンダードセルに対して、高精度な回路パラメータの抽出及び論理の認識を行い、セル内の諭理に応じた遅延パラメータを算出するシステムFRIEND-C(FRom Ic mask pattern Extracting the Net and Delay on standard Cell)を開発したので報告する。 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00349328 | |||||
書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第33回, 号 情報システム, p. 2251-2252, 発行日 1986-10-01 |
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出版者 | ||||||
言語 | ja | |||||
出版者 | 情報処理学会 |