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クロックゲーティングによる信頼性起因クロックスキューとその対策
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/110850
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/110850a2ac6f6f-ba17-44ed-b37c-fdc36be4457e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-Z75-4A-3.pdf (381.5 kB)
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Copyright (c) 2013 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | National Convention(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2013-03-06 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | クロックゲーティングによる信頼性起因クロックスキューとその対策 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | アーキテクチャ | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 弘前大 | ||||||||
| 著者名 |
星誠
× 星誠× 渡邊眞之
× 黒川敦 |
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | クロックゲーティングはCMOS LSIの低電力化技術として一般的に使われているが、クロック信号を停止することでPMOSとNMOSのアンバランスな経時劣化をもたらす。本稿ではクロックゲーティングに関する信頼性問題として、クロックスキューに焦点を絞り、クロック分配や停止条件等によるスキューへの影響を明示し、その対策を示す。 | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||||
| 書誌情報 |
第75回全国大会講演論文集 巻 2013, 号 1, p. 45-46, 発行日 2013-03-06 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
