開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2014-11-06
• タイトル: 開発履歴分析を用いたコードクローン内外における欠陥発生率の調査
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Investigation of Defect Rate within Code Clones and the Surrounding Code Fragments Using Repository Mining Technique
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: リポジトリマイニング
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 名古屋大
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nagoya University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Nara Institute of Science and Technology
• 著者名: 中山, 直輝; 吉田, 則裕; 藤原, 賢二; 飯田, 元
• 著者名(英): Naoki, Nakayama; Norihiro, Yoshida; Kenji, Fujiwara; Hajimu, Iida
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: コードクローンとは，ソースコード中の互いに一致または類似したコード片を指し，主に開発者が行うコピーアンドペーストによって発生する．近年，コードクローン解析に基づくソフトウェアの欠陥検出手法が提案されており，実際に欠陥を検出した事例も報告されている．コードクローンに着目して欠陥を探す際に，欠陥がコードクローン内に含まれる場合もあれば，コードクローン外に存在する場合もあるため，開発者はコードクローン内外の両方について欠陥の有無を調べなければならない．しかし既存研究では，コードクローン内外のどちらで欠陥が多く発生し，開発者がどちらを優先的に検査すべきかを示す指標は得られていない．そこで本研究では，オープンソースソフトウェアを対象としたコードクローン内外における欠陥発生率の調査を行った．調査の結果，コードクローン内の欠陥発生率よりもコードクローン外の欠陥発生率の方が高いことが分かった．また，コードクローンとの距離に基づき，コードクローン外で特に欠陥発生率が高い範囲を調査した結果，コードクローンの上側では，コードクローンから遠ざかるにつれて欠陥発生率が低下することが分かった．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Code clone is a duplicate code fragment in the source code of software and generated by developer's copy and paste. Recently, some researchers proposed defect detection method based on code clone analysis and the proposed methods were able to detect defects in certain projects. Detecting defect based on code clone analysis may require developer to spend effort to check whether there is any defect because defect may exist within the code clone or the surrounding code fragments. However, there is no existing research clarifying which area, within code clone or the surrounding code fragments, poses higher defect rate. Therefore, there is no standard for developers to follow for prioritizing the order of inspection. This research investigated the defect rate within code clone and the surrounding code fragments on three open source softwares. The investigation revealed that the defect rate of surrounding code fragments is higher than the one of code clone. Furthermore, by measuring the distance from code clone to surrounding code fragments, we investigated the area that has higher defect rate within surrounding code fragments. According to the investigation, the defect rate of surrounding code fragments that are above the code clone is decreasing as the distance gets further.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10112981
• 書誌情報: 研究報告ソフトウェア工学（SE）; 巻 2014-SE-186, 号 2, p. 1-8, 発行日 2014-11-06
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会