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形式仕様に基づくテストパターン生成へのGAの適用
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/103139
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/103139c1661c6f-3392-4a61-9362-7556b42666ae
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-MPS14100015.pdf (1.1 MB)
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Copyright (c) 2014 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2014-09-18 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 形式仕様に基づくテストパターン生成へのGAの適用 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 法政大学 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 法政大学 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 法政大学 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hosei University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hosei University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hosei University | ||||||||
| 著者名 |
杉原拓
× 杉原拓
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 形式仕様に基づいたソフトウェア開発において，テストパターンの自動生成に関しては既にいくつかの手法が提案されている．しかし，これまでに提案された手法は，仕様が正しく実現できていることを確認するためのものがほとんどであり，プログラムの全てのパスを通過するテストパターン自動生成の問題に関しては未解決である．本稿では，確率的探索手法である遺伝的アルゴリズムを用いたテストパターン生成手法を提案する．テストケースの集合を染色体として定義し，多次元ベクトルを用いた突然変異を提案することで，従来手法に比べてプログラムのパスの網羅率を大きく向上するテストパターン自動生成が実現できる可能性を示す． | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN10505667 | |||||||
| 書誌情報 |
研究報告数理モデル化と問題解決（MPS） 巻 2014-MPS-100, 号 15, p. 1-2, 発行日 2014-09-18 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
