2024-03-28T22:58:05Zhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_oaipmhoai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:001562682017-03-31T05:33:31Z08512:08642:08643:08588:08589
C_016 モジュールセット化による低面積組込み自己テストの実現(C分野:ハードウェア)C_016 A BIST Method with Low Hardware-Overhead by Using Sets under Testjpnhttp://id.nii.ac.jp/1001/00156234/Conference Paperhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_action_common_download&item_id=156268&item_no=1&attribute_id=1&file_no=1Copyright (c) 2006 by IEICE,IPSJ奈良工業高等専門学校電子情報工学専攻奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科情報処理学専攻奈良香魚高等専門学校情報工学科岩田, 大志青山, 瑠美山口, 賢一AA11740605情報科学技術フォーラム一般講演論文集511911942006-08-212016-02-18