2024-03-28T20:43:16Zhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_oaipmhoai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:000832572023-04-27T10:00:04Z01164:01579:06652:06839
耐故障FPGAアーキテクチャjpn信頼性http://id.nii.ac.jp/1001/00083255/Technical Reporthttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_action_common_download&item_id=83257&item_no=1&attribute_id=1&file_no=1Copyright (c) 2012 by the Information Processing Society of Japan東京大学大学院情報理工学系研究科東京大学大学院情報理工学系研究科東京大学大学院情報理工学系研究科東京大学大学院情報理工学系研究科東京大学大学院情報理工学系研究科堀口辰也吉田宗史倉田成己五島正裕坂井修一航空宇宙,医療,原子力といった分野において,高信頼な LSI が必要とされている.従来,このような分野においては,厳格な米軍仕様の基準を満たした MIL 規格品をはじめとする高信頼用途専用の LSI が用いられてきた.しかし,このような専用品は,高価なだけでなく,性能や入手性においても民生品に劣り,不便である.そこで本稿では,FPGA (Field-Programmable Gate Array) をベースに,安価に高信頼 LSI を得ることを目的とする.つまり,通常用途の FPGA に対し,わずかな追加ハードウェアで高い耐故障性をもたせる手法を提案する.通常用途の FPGA に対し追加するハードウェアを最小限に抑えることで,高信頼用途と通常用途の両立を図ることが可能となる.結果として,従来に比べて圧倒的に低コストに高信頼 LSI を実現することが可能となる.AN10096105研究報告計算機アーキテクチャ(ARC)2012-ARC-2015182012-07-252012-07-18