2024-03-28T20:10:26Zhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_oaipmhoai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:000756292023-04-27T10:00:04Z01164:02036:06262:06494
組込みシステムトレース技術とその応用Embedded System Trace Technology and the applicationjpn組込みシステムhttp://id.nii.ac.jp/1001/00075629/Technical Reporthttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_action_common_download&item_id=75629&item_no=1&attribute_id=1&file_no=1Copyright (c) 2011 by the Information Processing Society of Japan株式会社日立製作所中央研究所組込みシステム研究部株式会社日立製作所中央研究所組込みシステム研究部長野, 岳彦亀山, 達也組込みシステムの高機能化・高信頼化が進んでいるが,メーカ間のシェア競争は激化し,開発コストの削減が望まれている.組込みシステムの障害には様々あるが,工程遅延に大きく影響を与える障害として,再現性の低いソフトウェア障害がある.再現性の低いソフトウェア障害が工程遅延に影響する原因の一つは,組込みシステム自体の記録領域が小さいため,再現条件特定のために,何度も試行錯誤しながら情報を取得する点にある.本報告では,この試行錯誤的な対策を回避するため,外部記録媒体に記録可能な,長時間トレースシステムを提案し,評価した.また,既存のトレース技術の課題であった,製品毎への移植の必要性と,今後増えるインターネット接続による,出荷後のソフトウェア構成変更に対応するための,動的なトレース内容の変更を実現する,製品出荷後トレース技術を提案し,評価した.更に,長時間トレース実現の副作用である,対象のログ増大による解析効率悪化という新たな課題に対し,データマイニングを用いて,解析対象のログを削減する手法を提案し,解析効率向上の見込みを得た.Performance and reliability of embedded systems has advanced. However, it is desired to reduce costs. Because the competition for getting market share among manufacturers is intensifying. Although many variety of embedded system failure is exist, One of the main reasons for the delay is not reproducible software failure. Recording Resources of embedded systems is small, so we need trial and error to obtain reproduction information. In this paper, we propose a long time tracing system to solve above problem. And we examined the proposed method. In addition, We propose the running products tracing method to solve the problems of existing tracing method. Above problem consists of two problems, One is ported by product, Second is dynamic changing tracing contents for software configuration changes using internet. And we examined the proposed method. Finally, we got a new problem of the efficiency degradation due to increased log data using long time tracing system. To solve the problem, we propose a log reducing method using data-mining. And we obtained good result to improve efficiency analysis.AA11451459研究報告システムLSI設計技術(SLDM)2011-SLDM-14922162011-03-112011-07-29