2024-03-29T09:52:11Zhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_oaipmhoai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:000242742023-04-27T10:00:04Z01164:01579:01673:01674
論理最適化アルゴリズム評価のためのテスト例題のランダム生成Random Generation of Test Instances for Evaluating Logic Optimizersjpnhttp://id.nii.ac.jp/1001/00024274/Technical Reporthttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=repository_action_common_download&item_id=24274&item_no=1&attribute_id=1&file_no=1Copyright (c) 1993 by the Information Processing Society of Japan九州大学工学部九州大学工学部日野, 健介岩間, 一雄ランダムに生成したテスト例題を用いて,SISのような論理最適化アルゴリズムを実験的に評価することはあまり行なわれていない.本論文では,テスト回路の生成法として,初期回路に対していくつかの(等価)変換ルールをランダムに繰り返し適用する.結線をランダムに付加する方法よりは合理的であると考えられる.The attempt of using random test circuits for evaluating the performance of logic optimizers like SIS is apparently new. To generate "reasonable" random circuits, we propose the random applications of several transformation rules to an initial circuit instead of the obvious method, random placement of connections. Experimental results on SIS's responses against such random circuits are preseted, which suggests the significance of this project.AN10096105情報処理学会研究報告計算機アーキテクチャ(ARC)1993111(1993-ARC-103)63701993-12-162009-06-30