@techreport{weko_86973_1,
   author	 = "原田,諒 and 密山,幸男 and 橋本,昌宜 and 尾上,孝雄",
   title	 = "中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定",
   year 	 = "2012",
   institution	 = "大阪大学大学院情報科学研究科, 高知工科大学システム工学群, 大阪大学大学院情報科学研究科, 大阪大学大学院情報科学研究科",
   number	 = "42",
   month	 = "nov"
}