@techreport{weko_79489_1,
   author	 = "柏崎,智史 and 細川,利典 and 吉村,正義",
   title	 = "VLSI の製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察",
   year 	 = "2011",
   institution	 = "日本大学大学院生産工学研究科, 日本大学生産工学部, 九州大学大学院システム情報科学研究院",
   number	 = "34",
   month	 = "nov"
}