@techreport{weko_79478_1,
   author	 = "岡田,靖彦 and 四柳,浩之 and 橋爪,正樹",
   title	 = "テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法",
   year 	 = "2011",
   institution	 = "徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース, 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門, 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門",
   number	 = "23",
   month	 = "nov"
}