@techreport{weko_79458_1,
   author	 = "藤原,克哉 and 藤原,秀雄 and 玉木,英夫",
   title	 = "シフトレジスタ準等価な回路を用いたセキュアでテスト容易なスキャン設計について",
   year 	 = "2011",
   institution	 = "秋田大学大学院工学資源学研究科情報工学専攻, 大阪学院大学情報学部, 秋田大学大学院工学資源学研究科情報工学専攻",
   number	 = "3",
   month	 = "nov"
}