@techreport{weko_71140_1,
   author	 = "武田,敏秀 and 井上,俊介 and 大野,国弘 and 温,暁青",
   title	 = "知識ベースシステムに基づいたLSIテスト不良原因解析について",
   year 	 = "2010",
   institution	 = "（財）福岡県産業・科学技術振興財団, （財）福岡県産業・科学技術振興財団, （株）なうデータ研究所, 九州工業大学情報工学研究院",
   number	 = "22",
   month	 = "nov"
}