@techreport{weko_66890_1, author = "佐藤,文俊 and 古田,壮宏 and 赤倉,貴子", title = "官能評価を用いた意匠・商標画像の類否判断予測の検討", year = "2009", institution = "東京理科大学大学院工学研究科, 東京理科大学工学部, 東京理科大学工学部", number = "5", month = "nov" }