@techreport{weko_53187_1, author = "片渕典史 and 佐野,睦夫 and 奥平,雅士", title = "光学モデルに基づく部品表面検査の一手法", year = "1996", institution = "NTTヒューマンインタフェース研究所, NTTヒューマンインタフェース研究所, NTTヒューマンインタフェース研究所", number = "47(1996-CVIM-100)", month = "may" }