@techreport{weko_52446_1,
   author	 = "松井,健 and 長谷川,一英 and 池内,克史",
   title	 = "文化遺産における壁面画の測定に伴う歪み補正",
   year 	 = "2004",
   institution	 = "東京大学大学院　情報理工学系研究科　電子情報学専攻, 東京大学　生産技術研究所, 東京大学大学院　情報学環",
   number	 = "113(2004-CVIM-146)",
   month	 = "nov"
}