@techreport{weko_52208_1,
   author	 = "酒井,薫 and 前田,俊二",
   title	 = "複数パターン情報を利用した統計的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法",
   year 	 = "2006",
   institution	 = "日立製作所生産技術研究所検査システム研究部, 日立製作所生産技術研究所検査システム研究部",
   number	 = "25(2006-CVIM-153)",
   month	 = "mar"
}