@techreport{weko_34783_1,
   author	 = "佐々木,良一 and 吉浦,裕",
   title	 = "マークシステムと認証機関の関連に関する考察",
   year 	 = "2002",
   institution	 = "東京電機大学工学部, 日立製作所システム開発研究所",
   number	 = "12(2001-DPS-106)",
   month	 = "feb"
}