@techreport{weko_32213_1,
   author	 = "大塚,高 and 上野,修一",
   title	 = "逐次診断可能次数の上界",
   year 	 = "1997",
   institution	 = "東京工業大学電子物理工学科, 東京工業大学電子物理工学科",
   number	 = "115(1997-AL-059)",
   month	 = "nov"
}