@techreport{weko_28416_1,
   author	 = "猿山,秀一 and 荻原,拓治 and 村井,真一",
   title	 = "ALTES/RA：レジスタファイルを含む論理回路のテストパターン自動生成プログラム",
   year 	 = "1986",
   institution	 = "三菱電機（株）情報電子研究所, 三菱電機（株）情報電子研究所, 三菱電機（株）情報電子研究所",
   number	 = "85(1986-SLDM-035)",
   month	 = "dec"
}