@techreport{weko_28406_1,
   author	 = "中田,恒夫 and 藤田,昌宏 and 斎藤,隆夫 and 川戸,信明",
   title	 = "記号処理を用いた論理回路のテスト生成手法",
   year 	 = "1987",
   institution	 = "富士通研究所, 富士通研究所, 富士通研究所, 富士通研究所",
   number	 = "12(1986-SLDM-036)",
   month	 = "feb"
}