@techreport{weko_28238_1,
   author	 = "畠山,一実 and 林,照峯 and 甲把健 and 高倉,正博 and 野上,和枝",
   title	 = "大規模論理回路用　テストパターン自動生成システム",
   year 	 = "1990",
   institution	 = "（株）日立製作所, （株）日立製作所, （株）日立製作所, 日立エンジニアリング（株）, 日立エンジニアリング（株）",
   number	 = "81(1990-SLDM-054)",
   month	 = "oct"
}