@techreport{weko_27659_1,
   author	 = "永井,慎太郎 and 和田,弘樹 and 大竹哲史 and 藤原,秀雄",
   title	 = "固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法",
   year 	 = "2000",
   institution	 = "奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科",
   number	 = "2(1999-SLDM-094)",
   month	 = "jan"
}