@techreport{weko_27640_1, author = "浅川毅 and 金本,直之 and 岩崎,一彦 and 梶原,誠司", title = "ディレイ故障を検出するBIST用テストパターン発生回路", year = "2000", institution = "東京都立大学大学院工学研究科, 東京都立大学大学院工学研究科, 東京都立大学大学院工学研究科, 九州工業大学情報工学部電子情報工学科", number = "17(1999-SLDM-095)", month = "feb" }