@techreport{weko_27639_1,
   author	 = "樋上,喜信 and 高橋,直子 and 高松,雄三",
   title	 = "単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について",
   year 	 = "2000",
   institution	 = "愛媛大学工学部情報工学科, 愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学工学部情報工学科",
   number	 = "17(1999-SLDM-095)",
   month	 = "feb"
}