@techreport{weko_27638_1,
   author	 = "井筒,稔 and 和田,弘樹 and 増澤,利光 and 藤原,秀雄",
   title	 = "単一制御可検査性に基づくレジスタ転送レベルデータパスの組込み自己テスト容易化設計法",
   year 	 = "2000",
   institution	 = "奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科",
   number	 = "17(1999-SLDM-095)",
   month	 = "feb"
}