@techreport{weko_27592_1,
   author	 = "山中,宏樹 and 佐藤,康夫 and 池田,聡雄 and 山崎,巌 and 小林,誠治 and 高倉,正博",
   title	 = "欠陥ベース故障診断手法",
   year 	 = "2001",
   institution	 = "（株）日立製作所デバイス開発センタ, （株）日立製作所デバイス開発センタ, （株）日立製作所デバイス開発センタ, （株）日立製作所デバイス開発センタ, （株）日立製作所中央研究所, 日立エンジニアリング（株）",
   number	 = "12(2000-SLDM-100)",
   month	 = "feb"
}