@techreport{weko_27560_1,
   author	 = "宮瀬,紘平 and 梶原,誠司",
   title	 = "論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判定法について",
   year 	 = "2001",
   institution	 = "九州工業大学情報工学部電子情報工学科, 九州工業大学情報工学部電子情報工学部／九州工業大学マイクロ化総合技術センタ",
   number	 = "117(2001-SLDM-103)",
   month	 = "nov"
}