@techreport{weko_27486_1,
   author	 = "谷口,謙二郎 and 宮瀬,紘平 and 梶原,誠司 and イリスポメランツ and スダカーＭ,レディー",
   title	 = "符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について",
   year 	 = "2002",
   institution	 = "九州工業大学情報工学部電子情報工学科, 九州工業大学情報工学部電子情報工学科, 九州工業大学情報工学部電子情報工学科／九州工業大学マイクロ化システムセンター, School of Electrical and Computer Engineering  Purdue University, Electrical and Computer Engineering Department  University of Iowa",
   number	 = "113(2002-SLDM-107)",
   month	 = "nov"
}