@techreport{weko_27252_1,
   author	 = "土井康稔 and 梶原誠司 and 温暁青 and Lei,Li and Krishnendu,Chakrabarty",
   title	 = "スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮",
   year 	 = "2004",
   institution	 = "九州工業大学, 九州工業大学, 九州工業大学, デューク大学, デューク大学",
   number	 = "122(2004-SLDM-117)",
   month	 = "dec"
}