@techreport{weko_27247_1,
   author	 = "吉川,祐樹 and 大竹哲史 and 井上,美智子 and 藤原,秀雄",
   title	 = "単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計",
   year 	 = "2004",
   institution	 = "奈良先端科学技術大学院大学，情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学，情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学，情報科学研究科, 奈良先端科学技術大学院大学，情報科学研究科",
   number	 = "122(2004-SLDM-117)",
   month	 = "dec"
}