@techreport{weko_27111_1,
   author	 = "鈴木,達也 and 温暁青 and 梶原,誠司 and 宮瀬,紘平 and 皆本,義弘",
   title	 = "スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について",
   year 	 = "2005",
   institution	 = "九州工業大学, 九州工業大学, 九州工業大学, 科学技術振興機構, 科学技術振興機構",
   number	 = "121(2005-SLDM-122)",
   month	 = "nov"
}