@techreport{weko_228900_1,
   author	 = "杉岡,拓海 and 永村,美一 and 新井,雅之 and 福本,聡",
   title	 = "レイアウト起因LSI欠陥検出における欠陥モデルとデータ拡張の検討",
   year 	 = "2023",
   institution	 = "東京都立大学大学院システムデザイン研究科, 東京都立大学大学院システムデザイン研究科, 日本大学生産工学部, 東京都立大学システムデザイン学部",
   number	 = "33",
   month	 = "nov"
}