@techreport{weko_21830_1,
   author	 = "古山,恒夫 and 新井,義夫 and 飯尾,和彦",
   title	 = "バグ作り込みにおけるストレス影響度の設計法による差の分析",
   year 	 = "1996",
   institution	 = "日本電信電話（株）ソフトウェア研究所, 日本電信電話（株）ソフトウェア研究所, 日本電信電話（株）ソフトウェア研究所",
   number	 = "6(1995-SE-107)",
   month	 = "jan"
}