@techreport{weko_217111_1,
   author	 = "川口,大樹 and 藤田,樹 and 永村,美一 and 新井,雅之 and 福本,聡",
   title	 = "AI によるLSIレイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討",
   year 	 = "2022",
   institution	 = "東京都立大学大学院システムデザイン研究科, 東京都立大学大学院システムデザイン研究科, 日本大学生産工学部, 東京都立大学システムデザイン学部",
   number	 = "23",
   month	 = "mar"
}