@techreport{weko_207681_1,
   author	 = "環,輝 and 王,森レイ and 樋上,喜信 and 高橋,寛 and 岩田,浩幸 and 前田,洋一 and 松嶋,潤",
   title	 = "マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法",
   year 	 = "2020",
   institution	 = "愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科, ルネサスエレクトロニクス株式会社, ルネサスエレクトロニクス株式会社, ルネサスエレクトロニクス株式会社",
   number	 = "5",
   month	 = "nov"
}