@techreport{weko_200192_1,
   author	 = "保坂,巧 and 西澤,真一 and 岸田,亮 and 松本,高士 and 小林,和淑",
   title	 = "単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル",
   year 	 = "2019",
   institution	 = "埼玉大学大学院理工学研究科, 福岡大学工学部, 東京理科大学理工学部, 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター, 京都工芸繊維大学電気電子工学系",
   number	 = "12",
   month	 = "nov"
}