@techreport{weko_200168_1,
   author	 = "中岡,典弘 and 青野,智己 and 工藤,壮司 and 王,森レイ and 樋上,喜信 and 高橋,寛 and 岩田,浩幸 and 前田,洋一 and 松嶋,潤",
   title	 = "確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析",
   year 	 = "2019",
   institution	 = "愛媛大学理工学研究科, 愛媛大学理工学研究科, 愛媛大学理工学研究科, 愛媛大学理工学研究科, 愛媛大学理工学研究科, 愛媛大学理工学研究科, ルネサスエレクトロニクス株式会社, ルネサスエレクトロニクス株式会社, ルネサスエレクトロニクス株式会社",
   number	 = "28",
   month	 = "nov"
}