@techreport{weko_200166_1,
   author	 = "石山,悠太 and 細川,利典 and 池ヶ谷,祐輝",
   title	 = "コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法",
   year 	 = "2019",
   institution	 = "日本大学大学院生産工学研究所, 日本大学生産工学部, 日本大学大学院生産工学研究所",
   number	 = "26",
   month	 = "nov"
}