@techreport{weko_189772_1,
   author	 = "二間瀬,悠希 and 林,昌樹 and 多治見,知紀 and 塩谷,亮太 and 五島,正裕 and 津邑,公暁",
   title	 = "トランザクショナルメモリにおける競合誤検出の影響調査とその改善手法",
   year 	 = "2018",
   institution	 = "名古屋工業大学, 名古屋工業大学, 名古屋工業大学, 名古屋大学, 国立情報学研究所, 名古屋工業大学",
   number	 = "6",
   month	 = "jun"
}