@techreport{weko_184000_1,
   author	 = "武田,俊 and 細川,利典 and 山崎,紘史 and 吉村,正義",
   title	 = "コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法",
   year 	 = "2017",
   institution	 = "日本大学大学院生産工学研究科, 日本大学生産工学部, 日本大学生産工学部, 京都産業大学コンピュータ理工学部",
   number	 = "12",
   month	 = "oct"
}