@inproceedings{weko_156269_1,
   author	 = "福本,聡 and 黒川,晴申 and 新井,雅之 and 岩崎,一彦",
   title	 = "C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)",
   booktitle	 = "情報科学技術フォーラム一般講演論文集",
   year 	 = "2006",
   volume	 = "5",
   number	 = "1",
   pages	 = "195--196",
   month	 = "aug"
}