@inproceedings{weko_153679_1,
   author	 = "宮本,夏規 and 村上,陽紀 and 王,シンレイ and 樋上,喜信 and 高橋,寛 and 大竹,哲史",
   title	 = "C-020 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)",
   booktitle	 = "情報科学技術フォーラム講演論文集",
   year 	 = "2015",
   volume	 = "14",
   number	 = "1",
   pages	 = "273--274",
   month	 = "aug"
}