@techreport{weko_146160_1,
   author	 = "王,森レイ and 香川,敬祐 and 亀山,修一 and 樋上,喜信 and 高橋,寛",
   title	 = "アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について",
   year 	 = "2015",
   institution	 = "愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科／富士通株式会社, 愛媛大学大学院理工学研究科, 愛媛大学大学院理工学研究科",
   number	 = "34",
   month	 = "nov"
}