@techreport{weko_146151_1,
   author	 = "田島,咲季 and 史,又華 and 戸川,望 and 柳澤,政生",
   title	 = "15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計",
   year 	 = "2015",
   institution	 = "早稲田大学理工学術院, 早稲田大学理工学術院, 早稲田大学理工学術院, 早稲田大学理工学術院",
   number	 = "25",
   month	 = "nov"
}