@inproceedings{weko_144802_1,
   author	 = "梅原,成宏 and 張,魁元 and 一二三,潤 and 古田,潤 and 小林,和淑",
   title	 = "28 nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるデバイスシミュレーションによるのソフトエラー耐性の評価",
   booktitle	 = "DAシンポジウム2015論文集",
   year 	 = "2015",
   volume	 = "2015",
   number	 = "",
   pages	 = "41--46",
   month	 = "aug"
}