@inproceedings{weko_120731_1,
   author	 = "辻村,勉 and 瀬戸,真代 and 黒木,廣幸 and 佐藤,和則 and 兼田,太 and 鈴木,和夫",
   title	 = "基板診断におけるLSIアイソレーションパターンの検証方法に関する一考察",
   booktitle	 = "全国大会講演論文集",
   year 	 = "1991",
   volume	 = "第42回",
   number	 = "ハードウェア",
   pages	 = "200--201",
   month	 = "feb"
}